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bob半岛电子:使用有限元法可以改善bob半岛电子的抗挤强度

文章出处:www.tjfbsy.com 作者:bob半岛电子 人气: 2763 发表时间:2019-09-12 01:02:23
 
            bob半岛电子的抗碎强度通常根据美国石油协会的API BUL 5C3标准计算。计算公式基于大量物理测试数据并通过数学回归方法导出。根据不同的配方分阶段研究bob半岛电子的轴承能力。实际上,bob半岛电子产品通常具有制造缺陷,例如非圆形和不均匀的壁厚。在使用过程中,套管磨损也是不可避免的,这大大降低了套管的承载能力。
 
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            此外,有限元法也被广泛用于计算bob半岛电子的抗压强度。bob半岛电子坍塌是各种因素综合作用的结果。在实验研究中,由于初始的不圆度和壁厚不均匀性同时存在,因此难以分别计算某个缺陷因子对抗碎强度的影响。有限元规则没有这个限制,并且完全有可能只改变一个缺陷因子,同时保持其他缺陷因子不变。
            实际上,bob半岛电子并不是理想的圆管,bob半岛电子的厚度也不是完全均匀的,存在一些几何缺陷。实践证明,bob半岛电子圆度和壁厚不均匀性对其抗挤毁性能有影响。bob半岛电子非圆度e是反映其加工精度的结构参数。实际的bob半岛电子不能加工成理想的圆管,其不圆度通常用圆度e来衡量。
 
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            bob半岛电子通过建立套管抗挤强度的有限元计算模型,经过实验结果表明,该模型具有较高的精度,可用于套管抗挤强度分析。理想圆管的抗压强度高于有几何缺陷的bob半岛电子。非圆度对挤压强度影响较大,而壁厚不均匀性影响相对较小。随着bob半岛电子圆度的增加,套管抗挤毁能力大大降低。在允许圆度公差范围内,抗挤强度降低54.76%。
 

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